供应X射线测厚仪 镀层测厚仪 测金机 膜厚仪

XRF-2000 X射线测厚仪 镀层测厚仪 测金机 膜厚仪 
X-射线镀层测厚仪的特征:
1.可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
2.可通过CCD摄像机来观察及选择微小面积以进行镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
3.备有250个以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。

一．韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列X射线测厚仪（全新**进口）
XRF2000能提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱**值，同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果，甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。**大/开放式的样品台，可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的可以选择。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92 。
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL**电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

二．美国Thermo *二代X射线荧光测量仪器（高端型测厚仪）
实现了**、精密、准确的X-射线测量仪器。
MicronX可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（Å）至微米（μm）,它也能测量多至20个元素的块状合金成分。其准确度、精密度和稳定性是*一**的。
世界**光学准直器，光束较少可达0.025mm；集中X-射线光束，强度加强5-8倍；适合较薄镀层测量，测量时间为正常的1/5；配有ZOOM功能，图象可放大至较高200倍；更新FP方法，适合多层厚度测量。